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新TOEICテスト一発で正解がわかる英単語860点・990点 / キム・デギュン著
シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル エイタンゴ 860テン 990テン

データ種別 図書
出版者 [東京] : 旺文社
出版年 [2008.6]
本文言語 日本語
大きさ 223p ; 19cm + 録音ディスク (1枚 ; 12cm)

所蔵情報を非表示

2階語学本コーナー
830.79/Ki38 40013442
9784010940914

書誌詳細を非表示

データ種別 図書
一般注記 出版地, 出版日付はジャケットによる
著者標目 キム, デギュン <キム, デギュン>
件 名 BSH:英語
分 類 NDC8:830.79
NDC9:830.79
書誌ID 7000184072
ISBN 9784010940914
NCID BA86957866

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